Для решения задач компьютерного моделирования кристаллических структур материалов часто используются градиентные методы оптимизации. При этом возникает необходимость определения точного значения градиента потенциала Терсоффа по специфическим для моделируемого вещества параметрам этого потенциала. На основе методологии быстрого автоматического дифференцирования получены формулы, позволяющие вычислять точное значение указанного выше градиента.